纳米测量中屏蔽罩的重要作用

我们建议采样三轴电缆[2]和屏蔽罩措施，以消除漏电路径和稳定时间的问题。在图4的第二种构型中，电缆是由一个内导体、内屏蔽和外屏蔽构成的。通过用单增益放大器来驱动电缆的内屏蔽，可以几乎完全消除电缆电阻[3]（以及其他的漏电电阻）的负载效应。因为内部导体和内部屏蔽[4]间的电压差现在几乎为零，所有的测试电流现在都流过内导体并流向测量仪器的输入。流过内部屏蔽－地的漏电通路的漏电电流可能具有较大的量值，但该电流是由单增益放大器的低阻抗输出而非电流信号源来提供的。根据定义，屏蔽在电路中应当是一个低阻抗的点，其电位应当与高阻抗输入端的电位近乎相等。在现代静电计[6]中，预放大器的输出端应该置于这个点上，屏蔽罩，可以用于减少电缆的漏电。一个进一步的好处是等效的电缆电容也相应降低了，从而大大提升了电路的响应速度，80万避雷器屏蔽罩，缩短了测量时间。

什么是屏蔽罩？

屏蔽罩[1]由支腿及罩体组成，高压电器屏蔽罩，支腿与罩体为活动连接，罩体呈球冠状。主要应用于手机，GPS等领域，是防止电磁干扰（EMI）、对PCB板上的元件及LCM起屏蔽作用。

屏蔽罩，罐式避雷器屏蔽罩，英文名：shield cover/case/bracket，由支腿及罩体组成，支腿与罩体为活动连接；罩体呈球冠状。此部件主要应用于手机，GPS等领域，是防止电磁干扰（EMI）、对PCB板上的元件及LCM起屏蔽作用。屏蔽罩的材料一般采用0.2mm厚的不锈钢和洋白铜为材料，其中洋白铜是一种容易上锡的金属屏蔽材料。采用SMT贴片时应考虑吸盘的设计。

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