江苏一六仪器有限公司 专业镀层测厚检测 欢迎来电详询!
X射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试,厚度的测量范围视材料和元素而定,金手指测厚仪,通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较,被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关,而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法,具有无需对样品进行特别的化学处理、快速,方便,测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用最为广泛,具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪相关注意事项:
仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。
本仪器为精密仪器,小样品测厚仪,配备高精度的稳压电源.计算机应配备不间断电源(UPS)。
仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。
为避免短路,严禁仪器与液体直接接触,如果液体进入仪器,请立即关闭仪器。
本仪器不能用于酸性环境和易爆场合。
不要弄脏和刮擦调校标准片,否则会造成读数错误。
不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物,可以用不起毛的布轻轻擦拭。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名专家通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
一六仪器 X荧光光谱测厚仪
镀层分析X射线荧光光谱特点
1.镀层分析快速、无损,测厚仪,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟,分析精度高。
2.可测试超薄的镀层。
3.可测试多镀层,分析精度远远高于其他测量方法。
4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定,选择合适的对比分析样品,就可以准确的分析出合金镀层的厚度。
5.对于样品可进行连续多点测量,适合分析镀层的厚度分布情况,并可以对样品的复杂面进行测量。
6.对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别
7.不可以测试超厚样品,普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。
8.可以对极小样品进行测试
9.属于对比分析仪器,测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样