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产品规格 图文详情
品牌:
晶格
型号:
SZT-A型
加工定制:
类型:
其他
测量范围:
-
电 源:
-
测试电压:
-
精度:
-
重复误差:
-
环境温度:
-
相对湿度:
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校准周期:
-
重量:
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尺 寸:
-
规格:
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电源:
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尺寸:
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SZT-A四探针测试台厂家直销四探针测试台电机测试台液压测试台多功能测试台




基本功能:SZT-A型四探针测试台,是用来装夹四探针探头,连接四探针测试仪器,放置样品,手动方式四探针法测试电阻率/方块电阻配套测量装置(以下简称测试台)。

基本组成:主要有载物台(直径120mm净载物面积)、垂直导向杆、探头高度调节、测试压力调节、探头连接板等单元组成。

配套与兼容:本测试台可选配本公司所有型号的四探针测试探头,包括钨针四探针探头(测试硬质样品用),镀金合金探头(测试柔性薄膜或涂层方阻专用);本测试台兼容本公司所有四探针测试仪器。本测试台加配本公司探头,可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。

二、可测半导体材料尺寸  (探头手持方式不限)

直        径:  SZT-A测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.

长(或高)度:  测试台直接测试方式 H≤160mm,    其他方式不限.

  测 量 方  位:  轴向、径向均可




.1 放置样品:调节测试台后上部旋钮,向上升起测试台探头,如图3.1,将样品放在探头下方测试台板上,然后调节测试台后上部旋钮向下小心压下探头。如图3.2

3.2压力调整:可根据样品厚度及压力要求,在探头压下,探针接触样品表面的状态下,调节测试台旋钮,观察探头探针压下程度,调节测试压力!如图3.3

对于ST2253-F01钨针探头,探头探针缩进量0~3mm,对应探头压力0~2.0K公斤,如图3.3A

对于ST2558B-F01薄膜方阻探头,探头探针探针缩进量0~3mm,对应探头压力0~400克!如图3.3B

调好后,松开手,压力会自动保持。

3.4测好后,抬起探头,移动样片或移开!图 2.1

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