一、用途： 武汉三槽式冷热冲击试验箱生产商适用于电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具. 二、特点： 1.采用国际通行的蓄能方式进行冷热温度的冲击试验 2.触控式彩色液晶显示人机界面控制器，操作简易 3.图形功能显示，有异常或故障显示及排除方法说明 4.温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制 5. 风量分布均匀，保证测试暴露均匀 6.具有预约启动功能，可选择冲电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件击方式（先冲高温或先冲低温） 7. 可设定循环次数及自动除霜 可选配件： 1. 温度记录仪 2.冷却水塔、水管及水泵 三、冷热冲击试验机执行与满足标准???? 1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；????? 2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；????? 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；????? 4、GJB150.5-86温度冲击试验；????? 5、GJB360.7-87温度冲击试验；????? 6、GJB367.2-87?405温度冲击试验。????? 7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式?????? 8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式?????? 9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化?????? 10、GB/T?2424.13-2002试验方法温度变化试验导则?????? 11、GB/T?2423.22-2002温度变化?????? 12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则???? 13、EIA?364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估 四、三箱式和二箱式的选购： 1、箱：有常温停留阶段，因控制原理不同，高低温及常温停留阶段类似正弦函数的曲线。 2、功能：三个箱体，高温箱体、放置样品的箱体及低温箱体，测试高温时，高温箱门打开，低温箱门关闭。测试低温时，高温箱门关闭，低温箱门打开；有室温状态，便于取放样品；产品不移动，减少产品移动对产品造成的影响，可以接一些敏感电信号监测线；转换时间比较长。 3、两箱：没有常温停留阶段，只有高温及低温停留，高低温停留阶段初期有明显的过冲现象。 4、功能：两个箱体，高温箱体和低温箱体，中间是吊篮。测试时样品放在吊篮里，做高温测试时吊篮提到高温箱，反之做低温试验。因样品快速放入预先降温的低温室或预先加热的高温室，因此变12胚。温速度快；结构紧凑，一般容积较小；转换时间短，试验时产品需要移动；可作为热冲击箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用。 五、 武汉三槽式冷热冲击试验箱生产商技术规格： 型号 工作室尺寸 外箱尺寸 载重 ADX-TS-50L 400mm(W)×350mm(H)×360mm(D) 1650mm(W)×1800mm(H)×1750mm(D) 5kg ADX-TH-80L 400mm(W)×400mm(H)×500mm(D) 1700mm(W)×1800mm(H)×1800mm(D) 5kg ADX-TS-150L 500mm(W)×600mm(H)×500mm(D) 1800mm(W)×1800mm(H)×1800mm(D) 5kg ADX-TS-225L 700mm(W)×500mm(H)×600mm(D) 1900mm(W)×2400mm(H)×1800mm(D) 10kg ADX-TS-408L 600mm(W)×850mm(H)×800mm(D) 2050mm(W)×2250mm(H)×2150mm(D) 15KG 六、主要技术指标： 1.机器重量: 约 1300KG 2.冲击温度范围：-40℃-150℃ 3.预热温度范围： +60℃～200℃； 4.升温时间： +60℃～200℃≤20min； 5.预冷温度范围：-65～-10℃； 6.降温时间： +20℃～-75℃≤60min；（注：降温时间为低温室单独运转时的性能） 7.试验方式：气动风门切换3温区； 8.温度冲击范围：（+55℃～+150℃）/ （-40℃～-10℃） 9.温度波动度：±0.5℃ 10.温度偏差：±2.0℃ 11.温度恢复时间：≤3～5min(5KG塑料负载) 12.试样限制：本实验设备禁止易燃、易挥发性物质试样的试验或储存；腐蚀性物质试样的试验或储存；生物试样的试验或储存；强电磁发射源试样的试验或储存。