Sartorius赛多利斯M-Pact精密|分析天平
M-class天平是专为实验室和学校初次使用天平的用户而设计。各种型号,从用于自然科学研究的便携式精密天平,到自动校准的高精度分析天平,一应俱全
- 赛多利斯称重技术,如快速测量结果和赛多利斯非凡的可靠性
- 质量好,性价比较高
- 结合实际的设计,即使是天平的初次使用者,也可高效、无误地使用该天平进行工作
- 量程最大6,200 g
- 分辨率最大0.1 mg
- 自动内校
- 较大称量平台
黄先生: 13862582067
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