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频率老化率：在恒定的环境条件下测量振荡器频率时，振荡器频率和时间之间的关
系。这种长期频率漂移是由晶体元件和振荡器电路元件的缓慢变化造成的，可用规定时限后
的最大变化率（如±10ppb/天，加电72小时后），或规定的时限内最大的总频率变化（如：
±1ppm/（第一年）和±5ppm/（十年））来表示。
说明：TCXO的频率老化率为：±0.2ppm～±2ppm（第一年）和±1ppm～±5ppm（十
年）（除特殊情况，TCXO很少采用每天频率老化率的指标，因为即使在实验室的条件下，温
度变化引起的频率变化也将大大超过温度补偿晶体振荡器每天的频率老化，因此这个指标失
去了实际的意义）。OCXO的频率老化率为：±0.5ppb～±10ppb/天（加电72小时后），±
30ppb～±2ppm（第一年），±0.3ppm～±3ppm（十年）。
⒌频率压控范围：将频率控制电压从基准电压调到规定的终点电压，晶体振荡器频率的
最小峰值改变量。
说明：采用fTref指标的晶体振荡器其生产难度要高于采用fT指标的晶体振荡器，故
fTref指标的晶体振荡器售价较高。
⒊ 频率稳定预热时间：以晶体振荡器稳定输出频率为基准，从加电到输出频率小于规定
频率允差所需要的时间。
说明：在多数应用中，晶体振荡器是长期加电的，然而在某些应用中晶体振荡器需要
频繁的开机和关机，这时频率稳定预热时间指标需要被考虑到（尤其是对于在苛刻环境中使
用的军用通讯电台，当要求频率温度稳定度≤±0.3ppm(-45℃～85℃），采用OCXO作为本
振，频率稳定预热时间将不少于5分钟，而采用DTCXO只需要十几秒钟）。
